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當前位置☁·↟│:首頁 > 產品中心 > 薄膜製備全套裝置 > 磁控濺射鍍膜裝置 > 膜厚監測儀--EQ-TM106
簡要描述☁·↟│:EQ-TM106膜厚監測儀是採用石英晶體振盪原理✘↟•☁◕,結合先進的頻率測量技術✘↟•☁◕,進行膜厚的線上監測│•·。主要應用於MBE↟·↟₪↟、OLED熱蒸發↟·↟₪↟、磁控濺射等裝置的薄膜製備過程中✘↟•☁◕,對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監測│•·。根據實時速率可以輸出PWM模擬量✘↟•☁◕,作為膜厚感測器使用✘↟•☁◕,與調節儀和蒸發電源配合實現蒸發源的閉環速率控制│•·。
產品分類
薄膜製備全套裝置
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詳細介紹
技術引數
主要特點
EQ-TM106-1監測元件
EQ-TM106-2顯示儀
EQ-TM106-3探頭
標準配件
1
1個
2
1臺
3
質保期
一年質保期✘↟•☁◕,終身維護
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